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彎扭特性測試儀

更新時間:2024-01-11
廠商性質:生產廠家
訪問次數:1508

簡要描述:彎(wan)扭(niu)特性測試儀(yi)主要用于測試IC卡的彎(wan)曲(qu)、扭(niu)曲(qu)試驗(yan),符合國標(biao)(biao)GB/T 16649.1,國標(biao)(biao)GB/T-17554.1-2006及(ji)ISO10373和ISO7816-1998等試驗(yan)標(biao)(biao)準。

  一、彎扭特性測試儀介紹:
 
  該儀器主要用于測試IC卡的彎曲、扭矩試驗,符合國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998等試驗標準。該試驗機工位為15工位,其中5工位為長邊彎曲,5工位為短邊彎曲,5工位為扭曲試驗。將計數次數增加到9999次,計數方法采用非接處光電計數(傳統采用開關量計數),將故障率幾乎降為0,彎曲量和扭轉角度任意可調。
 
  二、主要技術參數:
 
  1.測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
 
  2.測試周期:1~9999次
 
  3.扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
 
  4.正反向各15°,總扭曲角度30°
 
  5.夾具安裝尺寸*按照國家標準執行。
 
  6.外形尺寸:670×380×220mm
 
  7.儀器重量:約70kg

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