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更新時間:2024-01-11廠商性質:生產廠家訪問次數:1508
簡要描述:彎(wan)扭(niu)特性測試儀(yi)主要用于測試IC卡的彎(wan)曲(qu)、扭(niu)曲(qu)試驗(yan),符合國標(biao)(biao)GB/T 16649.1,國標(biao)(biao)GB/T-17554.1-2006及(ji)ISO10373和ISO7816-1998等試驗(yan)標(biao)(biao)準。
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